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刘盼

作品数：5 被引量：0H指数：0
供职机构：中国科学院物理研究所更多>>

合作作者

文献类型

  • 5篇中文专利

主题

  • 3篇探测器
  • 3篇图形化
  • 3篇图形化系统
  • 3篇光探测
  • 3篇光探测器
  • 3篇光纤
  • 2篇电子束
  • 2篇钉扎
  • 2篇多层膜
  • 2篇真空系统
  • 2篇铁磁
  • 2篇铁磁层
  • 2篇温度传感器
  • 2篇响应特性
  • 2篇纳米
  • 2篇感器
  • 2篇传感
  • 2篇传感器
  • 2篇磁性多层膜
  • 1篇多层膜结构

机构

  • 5篇中国科学院

作者

  • 5篇刘盼
  • 5篇于国强
  • 5篇韩秀峰
  • 3篇郭鹏
  • 3篇孙晓玉
  • 3篇周向前
  • 2篇张殿琳
  • 2篇丰家峰

年份

  • 2篇2017
  • 1篇2015
  • 1篇2014
  • 1篇2013
共 5 条 记 录，以下是 1-5
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排序方式：
一种用于温度传感器的纳米磁性多层膜及其制造方法
一种用于温度传感器的面内磁性纳米多层膜及其制造方法，该多层膜分为三类：第一类结构由下至上依次包括：基片、底层、底部复合磁性层、中间势垒层、顶部复合磁性层和覆盖层，其中顶部复合磁性层和底部复合磁性层采用直接钉扎或间接钉扎结...
韩秀峰袁忠辉刘盼于国强丰家峰张殿琳
文献传递
一种纳米图形化系统及其光响应特性检测装置
一种纳米图形化系统及其光响应特性检测装置，该纳米图形化系统包括电源、控制装置和测量装置，该测量装置包括电子束枪、真空腔、真空系统、样品台和光响应特性检测装置，该光响应特性检测装置包括光发射器、导入光纤、光探测器、CCD成...
刘盼郭鹏于国强韩秀峰孙晓玉周向前
文献传递
一种纳米图形化系统及其光响应特性检测装置
一种纳米图形化系统及其光响应特性检测装置，该纳米图形化系统包括电源、控制装置和测量装置，该测量装置包括电子束枪、真空腔、真空系统、样品台和光响应特性检测装置，该光响应特性检测装置包括光发射器、导入光纤、光探测器、CCD成...
刘盼郭鹏于国强韩秀峰孙晓玉周向前
文献传递
一种用于温度传感器的纳米磁性多层膜及其制造方法
一种用于温度传感器的面内磁性纳米多层膜及其制造方法，该多层膜分为三类：第一类结构由下至上依次包括：基片、底层、底部复合磁性层、中间势垒层、顶部复合磁性层和覆盖层，其中顶部复合磁性层和底部复合磁性层采用直接钉扎或间接钉扎结...
韩秀峰袁忠辉刘盼于国强丰家峰张殿琳
文献传递
一种纳米图形化系统及其光响应特性检测装置
一种纳米图形化系统及其光响应特性检测装置，该纳米图形化系统包括电源、控制装置和测量装置，该测量装置包括电子束枪、真空腔、真空系统、样品台和光响应特性检测装置，该光响应特性检测装置包括光发射器、导入光纤、光探测器、CCD成...
刘盼郭鹏于国强韩秀峰孙晓玉周向前
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